Очистить фильтр
Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор X-Met8000
Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор X-Met8000
Рентгенофлуоресцентный анализатор для качественного и количественного экспресс-анализа элементного состава материалов
Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S
Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S
Используется для проведения рентгенофазового анализа, анализа степени кристалличности, анализа напряжений, остаточного аустенита и решения многих других задач.
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб
Универсальный просвечивающий электронный микроскоп c предельным разрешением 0,14 нм (14 ангстрем), детектором характеристических потерь электронов и системой энергодисперсионного элементного анализа
Ультрамикротвердомер динамический Shimadzu DUH-211S
Ультрамикротвердомер динамический Shimadzu DUH-211S
Реализует методы индентирования алмазных наконечников для измерения микротвёрдости по восстановленному отпечатку и/или непрерывной регистрации нагрузочной кривой по заданной программе с последующим расчётом на её основе микротвёрдости и реологических характеристик.
Анализатор удельной поверхности методом Брунауэра-Эммета-Теллера «Sorbi-М»
Анализатор удельной поверхности методом Брунауэра-Эммета-Теллера «Sorbi-М»
Автоматизированный прибор для измерения удельной поверхности по многоточечному методу Брунауэра-Эммета-Теллера. «Sorbi-М» сертифицирован как средство измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов.
Сканирующая зондовая нанолаборатория (микроскоп) NTEGRA Aura
Сканирующая зондовая нанолаборатория (микроскоп) NTEGRA Aura
Предназначен для изучения поверхности и проведения экспериментов на поверхности с пространственным разрешением 1 нм в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума.
Система ионной очистки EC-52000IC
Система ионной очистки EC-52000IC
Оборудование для пробоподготовки. Система предназначена для ионной очистки поверхности образцов, подготовленных для сканирующей зондовой, просвечивающей и растровой электронной микроскопии, от углеродных загрязнений.
Ртутный порозиметр PoreMaster 33
Ртутный порозиметр PoreMaster 33
Ртутный порозиметр предназначен для исследования пористой структуры объёмных и порошковых материалов. Результатом исследований являются количественные данные: таблицы и гистограммы количественного и объёмного содержания в виде распределения размеров и объема макро- и нанопор в материалах в диапазоне размеров от 1000 до 0,0070 мкм.
Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц SALD-7101
Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц SALD-7101
Прибор позволяет определить количественное или объёмное содержание частиц порошка или капель эмульсии различных размеров в диапазоне от 300 до 0,01 мкм.
Шлифовально-полировальная система EcoMet 300 Pro для пробоподготовки образцов к анализам на СЭМ, ПЭМ, РФА
Шлифовально-полировальная система EcoMet 300 Pro для пробоподготовки образцов к анализам на СЭМ, ПЭМ, РФА
Оборудование для пробоподготовки. Реализует автоматическое абразивное удаление материала (плоское шлифование/полирование образцов) с контролем толщины удаляемого слоя
Универсальный твердомер DuraVision 20G5
Универсальный твердомер DuraVision 20G5
Предназначен для определения твердости материалов методами Виккерса, Кнупа, Берковича и Роквелла, оценки трещиностойкости.
Высокотемпературный дилатометр DIL 402 E/7/G-Py
Высокотемпературный дилатометр DIL 402 E/7/G-Py
Предназначен для определения коэффициента линейного термического расширения (КЛТР)
Ультразвуковой толщиномер 38 DL Plus
Ультразвуковой толщиномер 38 DL Plus
Используется для определения упругих характеристик (модули продольной упругости и сдвига, коэффициент Пуассона, скорость звука) в образцах твёрдых материалов
Микротвердомер ПМТ-3М
Микротвердомер ПМТ-3М
Предназначен для измерения микротвёрдости материалов методом индентирования алмазного наконечника Виккерса по размеру диагонали восстановленного отпечатка.