Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб
Производитель:
JEOL, Ltd.
Год выпуска:
2008

Универсальный просвечивающий электронный микроскоп c термополевой пушкой. Большое разнообразие полюсных наконечников и приставок позволяет сконфигурировать его для решения широкого круга задач.

Изучению образцов на наноуровне (прямое разрешение) способствует наличие высокоточного и высокостабильного 5-осевого гониометрического столика образцов с пьезоподвижкой, которая позволяет очень плавно и точно перемещать образец на единицы нанометров при исследованиях с большими увеличениями, а также компенсировать его дрейф.

Ускоряющее напряжение 200кВ.

Предельное разрешение 0,14 нм (14 ангстрем).

Максимальное увеличение – 1500000 крат.

Оснащён детектором характеристических потерь электронов «Gatan» Enfina и системой энергодисперсионного элементного анализа (EDS). Обеспечивает количественный элементный анализ в точках, на линии, по площадям произвольной формы, а также картирование распределения элементов с пространственным разрешением карт не хуже 100 нм.

рабочий стол оператора