Рентгенофлуоресцентный анализатор HITACHI Oxford Instruments X-MET8000 для качественного и количественного экспресс-анализа элементного состава материалов

Основные характеристкии

- диапазон измеряемых элементов Na ÷ Am, исключая инертные газы, Rh, I, Br, Ba, Po, At, Pm, Eu,Tb, Dy, Ho, Er, Yb, Lu, Ac, Fr, Ra, Pa
- пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли для элементов Mo, V, Cr, Ni, Cu в диапазоне от 0,1 до 1,0 % массовой доли включительно ± 25,0 %
- пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли для элементов Mo, V, Cr, Ni, Cu в диапазоне от 1,0 до 99,9 % массовой доли ± 5 %
- предел допускаемого относительного среднеквадратического отклонения случайной составляющей погрешности измерений 15 %
- абсолютная погрешность по каждому элементу при анализе оксидов Si, Ca, Fe, P, Mg 1 %
- относительная погрешность по каждому элементу при анализе ферросплавов (FeSiCa, FeSi, FeCr, FeV, FeMo, FeCa) 3 %