Автоматическая система очистки поверхностей образцов от содержащих углерод загрязнений позволяет существенно повысить качество изображений и достоверность результатов элементного анализа при исследовании материалов методами просвечивающей и сканирующей электронной микросокпии, а также для исследования поврехности методами сканирующей зондовой микросокпии. Позволяет проводить ионное травление полимерной матрицы композиционных материалов для морфологического выявления структурных элементов наполнителя. Оснащена стандартными держателями для микроскопов комании JEOL.