Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 исследовательского класса с вертикальным θ-θ гониометром (проба всегда неподвижна) предназначен для качественного и количественного рентгенофазового (РФА), рентгеноструктурного анализов, степени кристалличности и размеров кристаллитов, анализа микронапряжений.

Прибор оснащён рентгеновской трубкой Cu Ka, гониометром с минимальным значением угла перемещения 0,0001 градусов в диапазоне от 12 до 162 градусов, а также программным обеспечением, позволяющим осуществлять сбор, хранение, интерпретацию и обработку данных, осуществлять первичный качественный и количественный фазовый анализ и другие исследования, конвертацию файлов экспериментальных данных в текстовые форматы. Имеется высокотемпературная приставка для анализа материалов при температурах до 2200°С в вакууме, а также поликапиллярная оптика для анализа объектов с рельефной поверхностью.

Области применения

• Анализ керамики и огнеупоров
• Анализ объектов окружающей среды, отходов
• Анализ природных ресурсов ( уголь, торф, руды, минералы)
• Химикаты, катализаторы
• Анализ черных, цветных металлов
• Машиностроение, автомобили, судостроение
• Фармацевтические препараты

Метрологические и технические характеристики

Диапазон измерений угловых позиций дифракции (2θ) (Брэгговских отражений): от 12 до 162 градусов
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения угловых позиций Брэгговских отражений по 2 θ: ± 0,007 градуса
Диапазон измерения параметров кристаллической решётки: от 0,2 до 1,4 нм
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения параметров кристаллической решетки: ± 0,00002 нм
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения параметров кристаллической решетки: ± 0,000001 нм
Диапазон измерения отношений интегральных интенсивностей: от 4 до 100 %

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения отношения интегральных интенсивностей: ± 4 %
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения отношения интегральных интенсивностей: ± 2 %
Диапазон измерения интегральной ширины Брэгговских отражений по 2θ: от 0,1 до 3,0 градусов
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения интегральной ширины Брэгговских отражений по 2θ: ± 0,005 градуса
Диапазон измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM) по 2θ: от 0,1 до 3,0 градусов

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM ) по 2θ: ± 0,003 градуса
Радиус гониометра: стандартный 275 мм; переменный от 200 до 275 мм
Минимальное значение угла перемещения гониометра: 0,0001 градуса

Напряжение на аноде рентгеновской трубки: не более 60 кВ
Анодный ток рентгеновской трубки: не более 80 мА
Время установления рабочего режима: не более 30 мин